MÁY DÒ KHUYẾT TẬT VẬT LIỆU PHI KIM Dryscan 410D

MÁY DÒ KHUYẾT TẬT VẬT LIỆU PHI KIM
 
Ứng dụng: kiểm tra khuyết tật của sản phẩm bằng gỗ, cao su, nhựa, gốm sứ, composite...



Tiêu chuẩn của tính năng và độ tin cậy

Dryscan 410D hay Shadow Technique là một phương pháp tiên tiến trong kiểm tra không phá huỷ các vật liệu kỹ thuật cao dùng trong công nghiệp hàng không, vật liệu composit và các vật liệu cấu tạo dạng tổ ong, là các dạng cấu trúc không thể kiểm tra được bằng các phương pháp NDT truyền thống. Kỹ thuật này có thể được sử dụng ở chế độ xung truyền qua, cụ thể là tín hiệu được truyền trực tiếp qua vật liệu từ bộ phát tới bộ thu, và cũng làm việc với các đầu dò xung phản hồi thong thường.

Ứng dụng: 
  • Dò/ kiểm tra khuyết tật vật liệu nhựa, composit
  • / kiểm tra khuyết tật sản phẩm hốm sứ, thủy tinh
  • / kiểm tra khuyết tật gỗ và sản phẩm gỗ
  • / kiểm tra khuyết tật của cao su và sản phẩm cao su
  • / kiểm tra khuyết tật của các sản phẩm phi kim khác

Kỹ thuật tiếp âm khô (không dùng chất tiếp âm) mang đến nhiều tiến bộ. Lấy ví dụ khi một dải phổ rộng các tín hiệu truyền được sử dụng thì song âm có thể truyền qua các cấu trúc phức tạp về hình học mà siêu âm thông thường không thể truyền qua. Điển hình, các đầu dò truyền và nhận không cần phải căn chỉnh thẳng hàng, mà chúng có thể định hướng lệch nhau một góc phù hợp. Đặc tính này, cộng với đường kính đầu dò nhỏ cỡ 5mm, cho phép thực hiện được các kiểm tra mà phương pháp truyền thống không giải quyết được.


Với kỹ thuật tiếp âm khô, sự truyền tín hiệu hiệu suất cao có thể thực hiện được nhờ sử dụng hệ tiếp xúc hoàn toàn khô. Năng lượng sóng siêu âm được truyền giữa đầu dò và vật liệu được kiểm tra nhờ vào việc sử dụng các đệm nhựa đặc biệt trên đầu dò, loại trừ sự cần thiết phải sử dụng chất tiếp âm. Các đầu dò cầm tay hay dạng con lăn cho dò quét liên tục sử dụng các hệ thống thao tác bằng tay hay tự động có thể được kết nối tới các hệ ghi ảnh C-Scan. Dryscan 410D đơn giản trong sử dụng và không yêu cầu đào tạo vận hành khắt khe. Kỹ thuật này không phát bức xạ nguy hiểm, không bẩn và không làm giảm phẩm chất của vật được kiểm tra. Các lợi ích chính của kỹ thuật Shadow Technique được tổng hợp dưới đây: 
  • Không yêu cầu chất tiếp âm giữa đầu dò và vật liệu kiểm tra.
  • Kiểm tra được các vật có cấu trúc hình học phức tạp mà siêu âm truyền thống không kiểm tra được.
  • Hệ thống có độ tin cậy cao trong dò tìm khuyết tật.
  • Phương pháp có thể được sử dụng cho nhiều loại vật liệu trong hệ thống kiểm tra  tự động hay bán tự động.
  • Trong nhiều trường hợp, việc chuẩn bị bề mặt kiểm tra là không cần thiết.

Kỹ thuật được sử dụng thế nào


Kỹ thuật Dryscan thường được sử dụng ở chế độ xung truyền qua, với đầu dò ở hai phía của vật kiểm tra, mặc dù nhờ vào việc sử dụng tần số thấp thì việc kiểm tra cũng có thể được thực hiện từ một phía. Xung siêu âm truyền đi là các xung hẹp, dải tần rộng, rất ít suy giảm tín hiệu tạo lên tín hiệu kiểm tra đặc biệt. Dryscan 410D có một bộ lọc có thể điều chỉnh để có tín hiệu phản hồi tốt nhất cho vật liệu được kiểm tra. Sự điều chỉnh này cho phép tăng độ nhạy, trong khi vẫn duy trì được nhiễu thấp, do đó cho phép kiểm tra các vật liệu có tính suy giảm âm cao. Một khi hệ thống đã được điều chỉnh phù hợp với các đặc tính vật liệu kiểm tra thì hình dạng sóng phản hồi có thể dễ dàng được đánh giá để xác định các khuyết tật và các bất thường.

Đánh giá kết quả


Với kiểu đầu dò Dryscan, các tín hiệu thu được có hình dạng đặc trưng. Nhóm tín hiệu đầu tiên trong tín hiệu này thường chứa từ 7 -10 chu kỳ xung. Tình trạng của vật liệu kiểm tra sẽ được đánh giá từ 3 yếu tố:
  • Mật độ của tín hiệu phản hồi nhận được
  • Độ dịch hay điểm gốc của nửa đường tròn đầu tiên của sóng phản hồi trên đường quét Time Base.
  • Hình dạng của mẫu hình giao thoa.

 Theo luật chung, cấu trúc vật liệu được xem xét là tốt (không khuyết tật) sẽ cung cấp:
  • Nhóm tín hiệu đầu tiên đạt biên độ toàn dải đo với một giá trị độ khuyếch đại dB nhất định.
  • Mẫu hình sóng phản hồi bình thường ví dụ nhóm tín hiệu đầu tiên gồm 7-10 chu kỳ xung.
  • Không có thay đổi bất thường về cường độ giữa các chu kỳ xung liền kề.