Máy phân tích tán xạ huỳnh quang tia X (XRF) là thiêt bị dựa trên cơ sở phương pháp phân tích huỳnh quang tia X để tiến hành phân tích định tính, định lượng và để kiểm tra phân biệt hàm lượng và các nguyên tô cấu thành của mẫu.
Máy phân tích tán xạ huỳnh quang tia X có thể phân tích mà không làm hao tổn mẫu đới với các mẫu cố định dạng miếng, chất lỏng và dạng bột; ứng dựng rộng dãi trong việc nghiêng cứu phát triển và quản lý chất lượng trong các lĩnh vực kiểm tra đo đường chất lượng, điện tử, dược phẩm, thực phẩm, luyện kim, hóa công nghiệp, khoáng sản địa chất và cả ngành khảo cổ học.
Từ sau khi tiêu chuẩn về Môi trường Châu Âu ‘‘ RoHS/WEEE’’ có hiệu lực và phổ biến khắp Châu Âu và 25 nước thành viên, dần dần phát triển thành hạng mục tiêu chuẩn toàn cầu. Các nước đã lần lượt đưa ra “tiêu chuẩn RoHS” của riêng mình, và mức độ qui định không thấp hơn tiêu chuẩn của RoHS. Và máy phân tích tán xạ Huỳnh quang tia X ra đời cũng chính vì mục đích kiểm tra chất lượng hàng hóa có đáp ứng được tiêu chuẩn đó cũng như các tiêu chuẩn kiểm tra hàm lượng chất độc hại trong các sản phẩm hàng tiêu dùng và đồ chơi trẻ em.
+Final+20120817.jpg) | MESA-50 Máy phân tích phổ huỳnh quang tán xạ năng lượng phân tích các thành phần nguyên tố trong vật liệu rời và vật liệu rắn như các sản phẩm quặng, quặng, xỉ, xi măng, đá vôi, thạch cao, đất sét, với khả năng phân tích các nguyên tố từ Al-U trong bảng tuần hoàn. Chi tiết » |  | iEDX-200A Máy phân tích phổ huỳnh quang tán xạ năng lượng dùng để phân tích thành phần 6 nguyên tố độc hại theo các tiêu chuẩn RoHS, WEEE, FLV... trong sản phẩm điện tử, nhựa, hàng tiêu dùng, rác điện tử... Chi tiết » |
 | iEDX-100A Máy phân tích phổ huỳnh quang tán xạ năng lượng dùng để phân tích thành phần 6 nguyên tố độc hại theo các tiêu chuẩn RoHS, WEEE, FLV... trong sản phẩm điện tử, nhựa, hàng tiêu dùng, rác điện tử... Chi tiết » |  | iEDX-150A Máy phân tích phổ huỳnh quang tán xạ năng lượng được thiết kế để đo chiều dày các lớp mạ kim loại trên sản phẩm bo mạch điện tử... Đồng thời thiết bị cũng hiệuchuẩn đẻ đo chiều dày lớp mạ kim loại. Chi tiết » |
